zeta電位分析儀所采用的技術(shù)原理
更新時(shí)間:2021-05-25 點(diǎn)擊次數(shù):727
zeta電位分析儀是采用光子相關(guān)光譜法、電泳光散射以及FST技術(shù)來分析,并可測定固體以及高濃度懸浮液的zeta電位。該儀器采用了高靈敏度測量技術(shù),可同時(shí)滿足低濃度和高濃度樣品納米粒度與zeta電位分析的要求。Zeta電位分析儀應(yīng)用:乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究(如食品、香水、藥品和化妝品);蛋白質(zhì)功能研究;核糖體分散和凝聚控制研究;表面活性劑功能研究(微囊)。
zeta電位分析儀檢測原理:
一般情況下,Zeta電位儀直接測定的是電泳遷移率,并轉(zhuǎn)化為Zeta電位,Zeta電位是通過理論推導(dǎo)出來的。
當(dāng)電場施加于電解質(zhì)時(shí),懸浮在電解質(zhì)中的帶電粒子被吸引向相反電荷的電極,作用于粒子的粘性力傾向于對抗這種運(yùn)動。當(dāng)這兩種對抗力達(dá)到平衡時(shí),粒子以恒定的速度運(yùn)動,我們一般稱這個速度通為電泳遷移率。通常在水性介質(zhì)和中等電解質(zhì)濃度下進(jìn)行Zeta電位的電泳測定法。
zeta電位分析儀是簡單、方便而且準(zhǔn)確的電泳遷移率測量儀器,其*的開放式樣品槽設(shè)計(jì)與頻譜漂移分析技術(shù)相結(jié)合,使其具有較高的分辨率,足以分辨等電點(diǎn)附近的多峰電泳分布情況。它的革新之處是從根本上消除了傳統(tǒng)Zeta電位測量儀器中固有的電滲誤差的影響,從而使測量變得準(zhǔn)確而方便。高靈敏度、高精度地評價(jià)單一納米粒子,并能*解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構(gòu)。該儀器被廣泛應(yīng)用于陶瓷粒子、金屬納米粒子、石炭、制藥、病毒、顏料和涂料、化妝品、聚合物、食品和 CMP 等的檢測。